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低温晶圆上探测器确定量子计算和量子传感用量子比特器件的质量

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发布时间：2023-09-02
 
 

 
德国首个用于对200毫米和300毫米整片晶片上的量子比特器件进行统计质量测量的低温测量装置已在弗劳恩霍夫国际原子力研究基金会投入运行。晶圆上的探测仪可以在低于2K的测量温度下对基于半导体量子点和量子阱以及超导体的器件进行表征。
 
全自动运行将使研究人员能够建立一个定量相关数据库，并推动欧洲量子计算和量子传感领域高质量设备的工业化生产。在投入使用时，该设施是全球第五个、欧洲第二个和德国第一个此类设施。
 
来源：
https://www.iaf.fraunhofer.de/en/media-library/press-releases/cryogenic-on-wafer-prober-determines-qubit-quality.html

 

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